CST-50 冲击试验缺口投影仪

概述：

CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高，是理化试验室的必备专用设备。
技术参数：

投影屏： ￠200mm

放大倍数：50X

光源：12V 100W（卤钨灯）
电源：220V 50Hz 150W
外型尺寸：515×224×603mm
重量： 约18Kg